L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N PATRÓN NACIONAL DE LONGITUD CENTRO NACIONAL DE METROLOGÍA LABORATORIO PRIMARIO EN MÉXICO MITUTOYO LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: D-45 kglm METROLOGÍA LABORATORIO SECUNDARIO ACREDITACIÓN: T–86 H-14 TERMO HIGRÓMETRO INF: K MT 100910 K MH 1010-10 VENCE: AGT - 12 INC: ± 0,49°C ±2,7 % HR Elaboró: José Luis Merlo Cazares Gerente de Laboratorio Fecha de Elaboración: Marzo 2012 Fecha de Vencimiento: Abril 2012 PATRÓN NACIONAL DE TEMPERATURA C A L I B R A C I O N I N S T R U M E N T A L E X A C T A L A B O R A T O R I O D E C A L I B R A C I O N A C R E D I T A C I O N D – 6 3   CARTA DE TRAZABILIDAD DIMENSIONAL (INSTRUMENTOS DE MEDICIÓN) BLOQUES PATRÓN INF: 110107 VENCE: DIC-12 INC: ± 0,08; 0,15 µm REGLA DE CRISTAL INF: 112001 VENCE: OCT-13 INC:± 2,0 µm INF: 112216 VENCE: DIC-13 INC: ± 3,5 µm MAQUINA DE MEDICIÓN POR COORDENADAS INF: 100445 - 100446 INC: ± 3,26 µm DISPOSITIVO DE MEDICIÓN DE LONGITUD INF: CNM-CC-740-466/2011 INC: ±(14+0,0021l) µm ESCALA DE CRISTAL INF: CNM-CC-740-257/2011 VENCE: JUN-13 INC: ± √(0,39+2,6*10-5*L2) µm ANILLOS PATRÓN LISOS INF: CNM-CC-740-(478-479)/2011 INC: ± 0,2 µm INF: CNM-CC-740-(434-435)/2009 VENCE: OCT-12 INC: ± 0,3 µm RETÍCULA DE ÁNGULOS INF: CNM-CC-740-080/2012 VENCE: FEN-15 INC: ± 1’ (DE ARCO) CIE ACREDITACIÓN: D-63 Cuenta metros (odómetros) SEPRI ACREDITACIÓN: D-39 TACÓMETRO INF: TF-289-2010 VENCE: ABR-12 INC: ± 0,058 r/min INF: 110440 VENCE: AGT-13 INC: ± 0,13 µm PATRÓN NACIONAL DE TIEMPO Y FRECUENCIA MAQUINA UNIDIMENSIONAL INF: CNM-CC-740-465/2011 INC: ± (0,09+0,003L) µm PATRÓN DE RUGOSIDAD INF: CNM-CC-740-096/2012 VENCE: MZO-14 INC: ± 0,013 µm PLANO ÓPTICO INF: CNM-CC-740-352/2005 VENCE: PERMANENTE INC: ± 0,000 9 µm BLOQUES PATRÓN ANGULARES INF: CNM-CC-740-263/2011 VENCE: JUN -14 INC: ± 2,0’ PLANTILLA DE AMPLIFICACIÓN INF: CNM-CC-740-095/2002 INC: ± 0,0008 mm CIO ACREDITACIÓN: D-85 PARALELAS ÓPTICAS INF: CIO-IC-563/2009 INC: ± 0,02 µm ACCESORIOS BLOQUES PATRÓN INF: 110357 INC: ± (0,08+0,0011L) µm INF: 110568 - 110569 VENCE: NOV-13 INF: 101731 VENCE: JUL-12 INC: ±(0,2+0,0025L) µm INF: 112463 – 112488 INC: ± (0,2+0,0025L) µm 122750 - 112758 INF:111973 - 111975 MAESTRO DE LONGITUD FIJA INF: 112819 INC: ± (0,3+0,005L) µm COMPARADOR ÓPTICO INF: 110953 - 110954 INC: ± (0,9+0,016L)µm ± 2,78´ ± 0,054 % ESCUADRA INF: 100395 INC: ± (3,0+0,008L) µm INF: 110956 - 110957 VENCE: ABR-13 INC: ± 0,15 µm INF: 112820 INC: ± 0,05 µm INF: 112821 - 112822 INC: ± (0,05+0,0009L)µm INF: 112571 INC: ±(0,05+0,0009)µm INF: 110600 VENCE: FEB-13 INF: 113527 VENCE: ENE-14 INC: ± (0,05+0,0009L) µm INF: 11946 - 11948 INC: ± 0,04 µm INF: 120521 - 120523 VENCE: ABR-14 MESA DE SENOS INF: 112831 INC: ± 0,26 µm INDICADOR DIGITAL INF: 112491 INC: ± (0,4+0,01L) µm INDICADOR TIPO PALANCA MESA DE PLANITUD INF: 112823 - 112824 INC: ± (3,4+0,001L)µm PALPADORES INDUCTIVO INF: 112825 INC: ± (0,14+0,012) µm INF: 112827 INC: 0,22 µm PATRONES DE ESPESORES INF: 110579 INC:±(0,08+0,0011L) µm PATRÓN DE PROFUNDIDADES INF: 112837 INC: ± (0,5+0,003L) µm Comparadores Ópticos Microscopios de Medición Medición con Máquina de Medición por Coordenadas Medición con Comparador Óptico Medición con Máquina Unidimensional Calibración Vertical de Longitudes Lainas de Espesores Micrómetros de Exteriores Medidores de Interiores 2 Superficies de Contacto Medidores de Interiores 3 Superficies de Contacto Micrómetros y Medidores de Profundidades Cabezas Micrométricas Calibradores Medidores de Alturas Rugosímetros Niveles de Burbuja y Electrónicos Indicadores de Vástago Recto Palpadores Inductivos Indicadores de Carátula Tipo Palanca Palpadores Inductivos Tipo Palanca Goniómetros y Medidores de Ángulos Medidores de Espesores de Recubrimiento Medidores de Espesores Magnéticos Medidores de Espesores con Indicador Reglas Graduadas Flexómetros y Cintas de Medición