J. C. Gómez, G. N. Campetelli, E. F. Florena CALIDAD DE PRODUCTO EN LA INDUSTRIA: APLICACIÓN DE LA EVOLVENTE DE LAS CURVAS DE INMUNIDAD FRENTE A HUECOS DE TENSIÓN J. C. Gómez, G. N. Campetelli, E. F. Florena IPSEP, Universidad Nacional de Río Cuarto, ARGENTINA Rosario, 25 de Septiembre de 2012
Hueco de Tensión y Concepto de Punto de acoplamiento común (PAC) Z2 Z1 carga PAC s 2
Curvas de inmunidad CBEMA, ITIC, y SEMI F47
Concepto de energía específica Energía específica en corriente ∫i2dt = I2t (A2 s) Energía específica en tensión ∫v2dt = V2t (V2 s) Efecto combinado y su conversión: importancia de la potencia de cortocircuito del sistema en el punto en estudio
Curvas de inmunidad individuales (líneas delgadas) y evolvente (línea gruesa de trazos) de una línea de producción hipotética
Efecto de la Generación Distribuida VSE [pu] = 1–(Zs+Zis)*(Zd+Zid)/(Zf*Z+(Zs+Zis)*(Zd+Zid+Zim)) con Z = Zs + Zi +Zd. En caso de cambio de posición, se estudia como “espejo”, Zs Zd
Efecto de la contribución de corriente de la GD ES ES
Variaciones de corriente y tensión sobre el ES
Circuito simplificado con conexión semi-rígida entre el GD y el sistema de potencia
Sistema radial con inclusión de GD ES Operación fusible 0,066 pu2s Salida de servicio (ss) ES 0,205 pu2s Si CB abre en 0,2 s ES ss en 0,42 s Si CB abre en 0,38 s F4 opera en 0,49 s y ES no sale de servicio (saldría en 0,53s)
Conclusiones El comportamiento del equipamiento eléctrico y electrónico frente a huecos de tensión de magnitud variable ha sido difícil de analizar. La metodología presentada permite el estudio y cuantificación de tal fenómeno. De la aplicación de esta metodología puede obtenerse información valiosa para la adopción de dispositivos de mitigación. La información también es aplicable al diseño de fuentes de alimentación de equipo electrónicos.
MUCHAS GRACIAS PREGUNTAS ?