Diseño de planes simples tablas Dodge Roming . 33 Diseño de planes simples tablas Dodge Roming Estos métodos minimiza el número promedio de piezas inspeccionadas ( ATI) si se tiene una buena estimación del proceso promedio y la política del muestreo es que todos los lotes inicialmente rechazados son inspeccionados y las piezas defectivas se reemplazan por no defectivas. a.- Diseño de planes simples tablas Dodge Roming con LTPD Límite Tolerado de defectivas Es el porcentaje mínimo de defectivas a partir de donde un lote se considera “tolerado” ( Malo ) a.1.-.-Muestreo Simple.- Un procedimiento de muestreo simple puede caracterizarse por lo siguiente: Se toma una muestra de n artículos de un lote de N artículos; el lote se acepta si el número de defectuosos d en la muestra no excede c. Aquí c se conoce como el número de aceptación. Ing. Rigoberto Arvizo A

Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 41 a.2.-Muestreo doble

b.- Diseño de planes simples tablas Dodge Roming con AOQL Límite de calidad promedio de Salida AOQL.- Es el porcentaje máximo de defectivas que en promedio da los lotes sometidos a un plan b.1.- Planes Simples

Ing. Rigoberto Arvizo A. 4 B.2.-Plan Doble.-

. . Ing. Rigoberto Arvizo A 44 Muestreo Secuencial muestreo secuencial autoriza tomar una decisión cada vez que un nuevo elemento es inspeccionado, o lo que se llama muestreo secuencial elemento por elemento. Ecuaciónes para límites en Muestreo secuencial.- La ecuación para las dos líneas límites que son paralelas y darán los p1’ = AQL, p2’=LTPD, , y deseado son:

Formula de Parámetros en Muestreo secuencial Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 46 Formula de Parámetros en Muestreo secuencial

DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 37 DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Se puede desear un proceso de tal índole, que la probabilidad de acepta-ción sea 1-  para un material de calidad AQL y  para un material de calidad LTPD.

DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 38 DISEÑOS CON DOS PUNTOS DE LA CCO.

DISEÑOS DE PLANES SIMPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 39 DISEÑOS DE PLANES SIMPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Tabla para diseñar un proceso de muestreo sencillo con dos puntos, con =0.05 y =0.10 c n*p1 n*p2 n*p2/np1 0 0.051 2.30 45.10 1 0.355 3.89 10.96 2 0.818 5.32 6.50 3 1.366 6.68 4.89 4 1.970 7.99 4.06 5 2.613 9.28 3.55 6 3.285 10.53 3.21

DISEÑOS GRAFICO DE PLANES SIMPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 40 DISEÑOS GRAFICO DE PLANES SIMPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Un procedimiento gráfico para deducir un proceso de muestreo para unos p1’, p2’, y determinados, nos lo da el nomograma de la figura 7.5. Se trazan dos líneas, una uniendo p1’ con y la otra p2’ con . Su intersección señala el área del proceso deseado. Si se desea conservar , la primera línea se continúa ya sea hasta la línea c, justamente arriba del punto de intersección, o hasta la línea c precisamente abajo del mismo, (suponiendo que el punto de intersección no coincida exactamente con una línea c), y las n alternativas se obtienen en el nomograma. La línea que une p2’ y puede ser utilizada de manera semejante. El resultado final es, otra vez, de 4 posibilidades que tienen aproximadamente los criterios que se desean. Donde p1’ = AQL y p2’= LTPD

DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES DOBLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 41 DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES DOBLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO.

Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 42 DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES MULTIPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Quimicos

Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 43 DISEÑOS ANALITICOS DE PLANES MULTIPLES CON DOS PUNTOS DE LA CCO. Barnard

Criterio de diseño de Muestreo secuencial Material preparado por Ing. Rigoberto Arvizo A. 45 Criterio de diseño de Muestreo secuencial Las curvas CO tipo B y AL para el procedimiento SPR (Razón de Probabilidad Secuencial) pueden ser diseñadas apartir de tres puntos. El proceso se proyecta de tal manera que la probabilidad de aceptación para p’ igual a p1’ es de 1-, y la probabilidad de aceptación para p’ igual a p2’ es . Esto origina dos puntos de la curva. Puede también demostrarse que s siempre se localiza entre p1’ y p2’, y la probabilidad de aceptación para una fracción defectuosa de un lote igual a s es (h2)/(h1+h2). Esto proporciona un tercer punto de la curva, cerca de su parte media. Nuevos puntos podrán obtenerse usando las ecuaciones paramétricas: