Infraestructura en Laboratorios

Presentación del tema: "Infraestructura en Laboratorios"— Transcripción de la presentación:

1 Infraestructura en Laboratorios
Cinvestav Unidad Querétaro Infraestructura en Laboratorios Libramiento Norponiente No. 2000 Fracc. Real de Juriquilla, C.P Querétaro, Qro., Tel. (442)

2 Infraestructura de Laboratorios
Desde la formación de la Unidad se ha hecho un gran esfuerzo por gestionar la adquisición de equipos para los Laboratorios gestionando diversos tipos de recursos: Propios del Cinvestav Proyectos CONACyT. Proyectos de vinculación con la industria. Hasta la fecha, estos esfuerzos nos ha llevado a contar con equipamiento que permite satisfacer la mayoría de las necesidades de investigación a los estudiantes de posgrado durante su trabajo de tesis. Estos equipos son básicos para el desarrollo de las investigaciones y se encuentran distribuidos de la siguiente manera.

3 Laboratorios Propiedades Eléctricas.
Propiedades Estructurales y Microscopía. Propiedades Ópticas. Crecimiento de peliculas delgadas II y caracterización Química de Materiales II Crecimientos de Películas Delgadas Semiconductoras. Materiales optoelectronicos. Procesamiento de Materiales Orgánicos. Recubrimientos. Química de Materiales I. Materiales Compuestos. Películas ultradelgadas Simulación. XPS

4 Laboratorios Propiedades de Transporte Térmico.
Propiedades Multifuncionales Nanométricas Investigación y Desarrollo Tecnológico en Recubrimientos Avanzados. Cerámicos Multifuncionales. Polvos metálicos. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica. Polímeros y Biomateriales. Energías Alternativas I. Películas Delgadas y Recubrimientos. Propiedades Fisicoquímicas.. Procesamiento Químico de Películas.

5 Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Medidores de Impedancias. Efecto HALL. Sistemas de depósito de metales. Analizador de semiconductores. Celda de mediciones ópticas. 5

6 Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Analizador de impedancia de precisión, Analizador de componentes y circuitos, Agilent 4294A con intervalo de Frecuencia 40 Hz a 110 MHz Precisión de impedancia de +/ % Espectrómetro E4994A Intervalo de frecuencia de 36 Hz a 1 MHz Control de temperatura de -65 a 150 ºC Evaporador de metales TE10P Presión en vacío hasta 10-6 Torr Control de temperatura hasta 900 ºC 6

7 Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
Efecto HALL Campo Magnético de 1 Tesla. Enfriamiento interno. Sistema de depósito de metales Presión de vacío de 30 mTorr. Atmósfera controlada con gas inerte. 7

8 Laboratorio 1. Propiedades Eléctricas
AGILENT 4155C Analizador de parámetros de semiconductores Resolución de 10 fA y 0.2 mV Celda de Mediciones con corriente eléctrica mediciones ópticas PASCO SF-9585A Usa un programa de LabVIEW Control de temperatura de 380ºC 8

9 Laboratorio de Propiedades Eléctricas
Multímetro de alta definición HP 34401A Pico amperímetro KEITHLEY 485 Osciloscopio GWINSTK GDS-84 OC 9

10 Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopía
Microscopio de Fuerza Atómica. Microscopio Electrónico de Barrido. Microscopio Óptico. Difracción de Rayos X. 10

11 MICROSCOPÍO DE FUERZA ATÓMICA
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia MICROSCOPÍO DE FUERZA ATÓMICA Microscopio con Nanoposicionador, corrección de histéresis (CLOSELOOP) con 2 modos de operación convencional y no convencional . Modos de operación convencional: Contacto Contacto Intermitente (TAPPING) Modos de operación No convencional: Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM) Microscopia de fuerza piezoeléctrica Resonante Microscopia de fuerzas laterales Microscopia de fuerza Kelvin 11

12 Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia
MICROSCÓPIOS ÓPTICOS Microscopio Óptico Olympus con objetivos 5, 10, 50 y 100x con cámara digital, software de adquisición y análisis de imágenes. Microscopio Óptico Olympus GX51 de platina invertida con objetivos 5, 10 y 50x , cuenta con cámara digital (Paxcam) y software de adquisición y análisis de imágenes. Microscopio Estereoscópico Olympus SZ61 con cámara digital. 12

13 DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X (Dmax2100) Marca Rigaku
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X (Dmax2100) Marca Rigaku CARACTERÍSTICAS Tubo Generador (XG) de Rayos X con un rango de 20Kv-2mA  hasta 40Kv-50mA y target de Cobalto (Co), con un longitud de onda de Å (Kα1). Goniómetro RIGAKU ULTIMA+ de radio de 185mm. Rejillas de Divergencia a la salida del XG. Filtro de Hierro (Fe) para la atenuación de la radiación de la linea Kβ en el Receiving slit. No se cuenta con Monocromador. Detector de centelleo (Contador Geiger). 13

14 DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X Modelo Ultima IV Marca Rigaku
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopía DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X Modelo Ultima IV Marca Rigaku CARÁCTERÍSTICAS Goniómetro con  geometría vertical θ/θ con un radio de 285 mm. Alineación completamente automatizada. Control independiente de los ejes θ s (source) y θ d (detector). Velocidad de Barrido: 0.002°/min a 100°/min de 2θ. Resolución: ° Tubo Generador de Rayos X de 2.0 kW de Potencia y  Target de Cobre  (Kα1= Å). Óptica Bragg-Brentano (polvos). Selección del tamaño del haz del :  2.0, 5.0, 10.0 mm. Soller Slits: 5.0° y 0.5º  divergencia axial. Monocromador de Grafito. Detector de centelleo de alta eficiencia y sensibilidad (0.5 cps) con linealidad: 700,000 cps 14

15 MICOSCOPÍO ELECTRÓNICO DE BARRIDO
Laboratorio 2. Propiedades Estructurales y Microscopia MICOSCOPÍO ELECTRÓNICO DE BARRIDO Microscopio Phillips XL30 Ambiental (ESEM) permite al usuario caracterizar de manera superficial y morfológica una amplia gama de materiales, cuenta además con un Espectrómetro de Dispersión de Energía de Rayos X (EDS). Excelente resolución 3 – 10 nm. Imágenes tridimesionales y con profundidad de campo. Caracterización de muestras no conductoras u orgánicas en estado nativo Obtención y determinación de composición química elemental a partir del carbono (EDS). 15

16 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Espectroscopía RAMAN, UV-Vis, FTIR y de Fluorescencia. Efecto HALL. Nanoindentación. Elipsometría. 16

17 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
MICRO ESPECTRÓMETRO RAMAN (Dilor modelo Lab. Raman II) CARACTERÍSTICAS Láser de Argón sintonizable a 488 y 514 nm con potencia 60 mW. Permite realizar barridos Espectrales desde 40x0 μm hasta 500 x 500 µm. Aplicable a soluciones, polvos, películas y gases. Rango de temperaturas : -180ºC a 250ºC. 17

18 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
EFECTO HALL ESCOPIA HMS-3000. CARACTERÍSTICAS Corriente de entrada: 1nA-20 mA. Resistividad: Concentración: 107 – 1021. Movilidad: Densidad de flujo magnético: 0.27, 0.31, 0.37, 0.51 y 1. 18

19 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
NANO INDENTADOR (Ubi 1 Hysitron, Inc .) Determina: las propiedades mecánicas: dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura, en bulk (bulto) y de algunas películas delgadas. Con las siguientes funciones: Módulos mapping. Mapeo del modulo de elasticidad. Nanoscihatch. Determina el coeficiente de fricción. Nanowear. Determina el desgaste. Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica, esquina cúbica (cube corner) y knoop. 19

20 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
Elipsómetro Espectroscópico UVISEL (Horiba-Jobin Yvon, Inc.) CARACERÍSTICAS Sistema con modulación de fase. Intervalo espectral: 1.5 – 5.0 eV. Ángulo de incidencia variable: 45° - 90°. DETERMINA: Espesores: a partir de 1 nm hasta 3 m. Índices de refracción y coeficientes de extinción. Función dieléctrica compleja. Ancho de banda prohibida. Transiciones electrónicas. Rugosidad superficial e interfacial. Composición. Cristalinidad. APLICACIONES EN : Semiconductores. Aislantes. Cerámicos. Metálicos. Polímeros. Aleaciones. Óxidos metálicos. 20

21 Laboratorio 3. Propiedades Ópticas
ESPECTRÓMETROS Espectrómetro UV-Vis Perkin Elmer Lambda II. Espectrómetro FTIR Nicolet Avatar 360. Espectrómetro de Fluorescencia. 21

22 Laboratorio 4. Crecimiento de Películas delgadas II y caracterización
Laboratorio en acondicionamiento que albergara los siguientes equipos: 2 sistemas de sublimación en espacio cercano Cromatógrafo de gases marca Agilent Espectrómetro de masas Intercovamex.

23 Laboratorio 5. Química de Materiales II
Mediciones de Viscosidad. Medición de punto de fusión. Perfilometría. Análisis de gases residuales. 23

24 Laboratorio 5. Química de Materiales II
Perfilometro Dektak II Para la determinación de espesores de películas delgadas. Resolución de 100 Ǻ. Espectrómetro de Masas Vac Check Permite la identificación de compuestos por medio de la cuantificación de especies ionizadas. Resolución hasta 200 uma. 24

25 Laboratorio 5. Química de Materiales II
Equipos varios: Sistema de Inmersión para crecimiento de películas delgadas por método sol-gel. Desionizador de agua. Balanzas analíticas. Campanas de extracción Muflas y estufas. 25

26 Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
Depósito de películas delgadas (Rf-Sputtering). Sistema de Epitaxia en fase Líquida (EFL). Horno de atmósfera inerte. CSC-Evaporador. 26

27 Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
SPUTTERING Crecimiento de películas delgadas por erosión catódica) Crecimientos desde T amb. hasta 600ºC Vacío de 10-6 Torr Desde T amb. hasta 200ºC Vacío de 10-6 Torr. 27

28 SISTEMA DE CRECIMIENTOS DE EPITAXIA EN FASE LIÍQUIDA
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras SISTEMA DE CRECIMIENTOS DE EPITAXIA EN FASE LIÍQUIDA Crecimiento de películas cristalinas de alta calidad Presión hasta 10-6 Torr Temperaturas hasta 900ºC 28

29 CRECIMIENTO DE PELICULAS POR SUBLIMACIÓN EN ESPACIO CERRADO.
Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras CRECIMIENTO DE PELICULAS POR SUBLIMACIÓN EN ESPACIO CERRADO. 2 cámaras para crecimiento 1 evaporador térmico Operación desde presión atmosférica hasta 10-6 Torr Desde T amb hasta 650ºC 29

30 Laboratorio 6. Crecimiento de Películas Delgadas Semiconductoras
Equipos varios Sistema de Inmersión para crecimiento de películas delgadas método sol-gel. Prensa Hidráulica. Con capacidad de 20 toneladas. Muflas y horno de tubo para tratamientos térmicos. 30

31 Laboratorio 7. Materiales Optoelectrónicos
Laboratorio en acondicionamiento que alojara los siguientes equipos. Potensiostatos Bancos de pruebas de celdas de combustible Sistema de Sputtering Equipos periférico de caracterización eléctrica

32 Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
EXTRUSOR DE ALIMENTOS Extrusor de bajo cizallamiento (Cinvestav) Capacidad para 5 kg/h, elaboración de botanas de 2ª y 3ª generación, alimentos para ganado y modificación de almidones. Extrusor de bajo cizallamiento (Cinvestav) Capacidad para 50 kg/h, elaboración de alimentos para ganado, modificación de almidones, elaboración de harinas nixtamalizadas por métodos ecológicos. 32

33 Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
Molinos Molino de martillos Pulvex. Molino ciclónico UDY. Molino de piedras.

34 Laboratorio 8. Procesamiento de Materiales Orgánicos
Equipos utilizados para el procesamiento de cereales, almidones y maíz: Mezcladora amasadora. Secador Ciclónico. Máquina Tortilladora eléctrica y de extrusión con cocedores de infrarrojo. Perladora de granos. Equipo Rotap para determinación de distribución de tamaño de partículas en harinas. Hornos y estufas de secado.

35 Laboratorios 9 y 10. Química de Materiales I
Depósito de películas y recubrimientos cerámicos por Sol-Gel. Sistema de medición de potencial Z Microdurómetro. Hornos y muflas 35

36 Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Prensa semiautomática. Pulidora de 2 discos de diamante. Cortadora de disco de silicio. Pulidora de 1 disco. Cortadora de disco de diamante (automática y manual). Pulidora electrolítica.

37 Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Struers Labotom-3 Cortadora de disco de silicio Para el corte manual de especímenes metalográficos. Struers Dap-7 Pulidora semiautomática de 1 disco se utiliza para pulido acabado espejo, se usan discos de paño de diferentes texturas en los cuales también se ocupa alúmina y pasta de diamante con granulometría de ¼ a 3 micras. Struers Rotopol-25 Pulidora de 2 discos para probetas metalográficas de velocidad variable. 37

38 Laboratorio 11. Materiales Compuestos
Struers Accutom-5 Cortadora de disco de diamante Para cortes de precisión para la preparación metalográfica de muestras. Struers Labopress-1 Prensa semiautomática Para encapsular muestras Cortadora de diamante Para cortes de precisión y para metales de alta dureza. Struers LectroPol-5 Pulidora Electrolítica, se utiliza para pulido, ataque químico de metales y grabado de especimen metalográficos. 38

39 Laboratorio 12. Películas Ultradelgadas
Laboratorio en acondicionamiento Los equipos que albergara son: ALD (Atomic Layer Deposition) Hornos de tratamientos térmicos en atmósferas controladas

40 Laboratorio 13. Simulación de Procesos
COMPUTADORAS DE SIMULACIÓN DE PROCESOS Y SOFTWARE DE SIMULACIÓN. (Procast, Flow, 3D, Inventor V 9) Simulación de flujo de fluidos. Modelado de procesos termodinámicos, principalmente de transferencia de calor Solidificación de metales 40

41 ESPECTROSCOPIA POR FOTOELECTRONES EMITIDOS CON RAYOS X
Laboratorios 14. XPS ESPECTROSCOPIA POR FOTOELECTRONES EMITIDOS CON RAYOS X (X-Ray Photoelectron Espectroscopy, XPS). Con software Thermo Avantage) Depósito por Capas Atómicas (Atomic Layer Deposition, ALD) Horno tubular Thermolyne 7400 Campana de extracción para realizar limpiezas químicas. Software para análisis (desarrollado en Cinvestav): AAnalyzer y XPSGeometry.

42 SISTEMA DE ESPECTROCOPIA DE FOTOELECTRÓNES DE RAYOS –X (XPS)
Laboratorios 14. XPS SISTEMA DE ESPECTROCOPIA DE FOTOELECTRÓNES DE RAYOS –X (XPS) Técnica para superficies, muy sensible y no destructiva. Para analizar cualquier material sólido: semiconductores, polímeros, zeolitas, cerámicos, etc. Proporciona información del estado químico de la superficie de los primeros 10 nm de espesor, de todos los elementos excepto para hidrógeno y helio. Compuesto por: Fuente monocromática de Al. Fuente dual de Al y Mg. Cámara de análisis en vacío ~6x10-10 Torr. Analizador de energía multi-detector hemisférico, cuenta con 7 canales. Manipulador de 3 ejes de alta precisión. Bombas: mecánica, turbo, iónica y sublimadora. Sistema ininterrumpible de energía (UPS).

43 (Atomic Layer Deposition)
Laboratorios 14. XPS ALD (Atomic Layer Deposition) Técnica que permite controlar el crecimiento de películas delgadas a nivel atómico. Este depósito por capas atómicas se basa en la obtención secuencial de estados estables y auto controlados en la superficie. La técnica utiliza reactivos secuenciados en condiciones termodinámicas en las que ocurre una saturación de la superficial entre cada reactante y la superficie. Cada una de estas reacciones adiciona una capa atómica sobre la superficie de crecimiento. El sistema opera a presión ~1x10-3 Torr 43

44 Ubicado en el Nuevo Edificio, Edificio de Investigación B.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico Ubicado en el Nuevo Edificio, Edificio de Investigación B. Técnicas Fototérmicas Espectroscopia Térmica. Espectroscopia Óptica. Espectroscopia Raman. Determinación de Conductividad Térmica. Espectroscopia Fotoacústica. 44

45 Espectroscopia óptica
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico Espectroscopia óptica Estudio de la propiedades ópticas de materiales. Espectroscopia óptica con celda fotoacústica. Espectroscopia óptica por reflectancia difusa. Espectrofotómetro de medición de color por reflectancia. Espectroscopia RAMAN Resolución de 0.15 cm-1. Puede usarse para espectroscopia de alta resolución. Con láser de argón como fuente de excitación. Con un monocromador doble Spex-1403 con rejillas holográficas de 1800 líneas/mm. 45

46 Espectroscopia térmica.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico Espectroscopia térmica. Para determinar propiedades térmicas de materiales, principalmente cerámicos, metales y estructuras complejas. Determina la difusividad térmica por fotoacústica y detección fotopiroeléctrica. Espectroscopia fotoacústica con celda abierta y celda cerrada. Resonador de ondas térmicas con control de temperatura (hasta 150ºC). Espectroscopía de lente térmico. 46

47 Flash Laser LFA 1000 Marca Linseis.
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico Flash Laser LFA 1000 Marca Linseis. Analizador para determinar propiedades térmicas de materiales, principalmente cerámicos, metales y estructuras complejas. Determina la difusividad térmica, calor específico y conductividad térmica. Horno con control de temperatura (hasta 1200ºC) y flujo de gases especiales. 47

48 Estación de trabajo Radiant LC
Laboratorio 15. Propiedades de Transporte Térmico Estación de trabajo Radiant LC Analizador de precisión para determinar propiedades dieléctricas y piezoeléctricas de materiales ferroeléctricos. Realiza ciclos de hysteresis de polarización, capacitancia, corrientes de fuga etc. 48

49 Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.
Laboratorio 16 Propiedades Multifuncionales Nanométricas. Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación. Microscopio de Fuerza Atómica. Nanoindentador (Ubi 1 Hysitron, Inc .) Nanoindentador Fischer Cripps. 49

50 Laboratorio 16. Propiedades Multifuncionales Nanométricas.
Nanoindentador (Ubi 1 Hysitron, Inc .) Para determinar las propiedades mecánicas: dureza, elasticidad y tenacidad a la fractura, en bulk (bulto) y de algunas películas delgadas. Con las siguientes funciones: Módulos mapping mapeo del modulo de elasticidad. Nanoscihatch determina el coeficiente de fricción. Nanowear determina el desgaste. Con puntas de prueba: berkovish, esferocónica, esquina cúbica (cube corner) y knoop. 50

51 Microscopio de Fuerza Atómica
Laboratorio 16. Propiedades Multifuncionales Nanométricas. Microscopio de Fuerza Atómica Microscopio con Nanoposicionador, corrección de histéresis (CLOSELOOP) con 2 modos de operación convencional y no convencional . Modos de operación convencional: Contacto Contacto Intermitente (TAPPING) Modos de operación No convencional: Microscopia de fuerza piezoeléctrica (PFM) Microscopia de fuerza piezoeléctrica Resonante Microscopia de fuerzas laterales Microscopia de fuerza Kelvin 51

52 Ubicado en el Nuevo Edificio
Laboratorio 17. Investigación y Desarrollo Tecnológico en Recubrimientos Avanzados. Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación. 52

53 Ubicado en el Nuevo Edificio
Laboratorio 18. Cerámicos Multifuncionales. Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación. 53

54 Laboratorio 19. Polvos Metálicos.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.

55 Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
Acoustosizer ZIIS Colloidal Dynamics Mediciones de tamaño de partícula desde 20 nm hasta 20 micras Mediciones de potencia Zeta utilizando un modelo acústico (modalidad dinámica, PH, temperatura y punto isoeléctrico (IEP). Con una celda de medición que permite solventes polares y no polares. Zeta Sizer Nano-S de MalverN Instrumen Mide tamaño de partícula con la técnica de dispersión de luz (LDS). Intervalo de 1 nm a 6 micras. Puede medir suspensiones coloidales. 55

56 Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica.
Microindentador con punta Vickers de Buller Mod. 1600, Punta de diamante con geometría Vicker Con cargas de 10 a 1000 gf Salida para cámara fotográfica. Volta Lab 80 marca Radiometer Analytical Mod. PGZ402 Voltametría, cíclica y lineal, Impedancia dinámica, Mediciones de corrosión, Medición por pulso, etc. (Características del potenciómetro: 230 V y Hz.) 56

57 Sistema de depósito por inmersión
Laboratorio 20. Materiales Nanoestructurados y Caracterización Electroquímica. Sistema de depósito por inmersión (DIP-Coating) Velocidad variable Utilizados para: Catalizadores en aire, aguas y filtros y Sensores, etc. Sonda Ultrasónica De alta intensidad acoplado a una sonda metaliza de 13 ml, se utiliza para la síntesis de diversos materiales conocidos como sonoquímica o síntesis por ultrasonido 57

58 Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales.
En Proceso su traslado hacia el Edificio de Investigación B Reactor de polimerización. Equipo análisis termodinámicos Cromatografía de permeación en gel (GPC) Balanzas Analíticas Espectrómetro FTIR Microscopio ATR

59 Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales.
Espectrofotómetro de Infrarrojo con transformada de Fourier (FTIR) Spectrum GX, Pekín Elmer. Regiones de medición: NIR: cercano infrarrojo de 1000 a cm MIR: medio infrarrojo de 4000 a 400 cm-1 Tiene 4 técnicas: Transmisión: MIR y NIR Reflectancia totalmente atenuada (ATR) con punta de diamante o ZnSe. Reflectancia especular MIR y NIR, con polarizador de KRS-5 (Specac) para el MIR Cuenta con Microscopio acoplado que se utiliza en el MIR para análisis puntual de los grupos funcionales de una superficie, realiza mapas de color falso. 59

60 Cromatografo de tamaño de exclusión (SEC)
Laboratorio 21 Polímeros y Biomateriales. Cromatografo de tamaño de exclusión (SEC) Waters. Para fases: acuosa y orgánica (THF) dos lectores: Absorbancia dual X (waters 2487) Índice de refracción (waters 2410) Intervalo de medición 3,900,000 – 1260 daltones. Determina los pesos moleculares de polímeros 60

61 Laboratorio 22. Energías Alternativas I.
Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación.

62 Laboratorio 23. Películas Delgadas y Recubrimientos
Sputtering DC pulsada y polarizada Depósitos por erosión catódica.

63 Laboratorio 23 Películas Delgadas y Recubrimientos
DC-Sputtering. Equipo de análisis térmico DSC (TGA).

64 Sputtering V3 Intercovamex
Laboratorio 23 Películas Delgadas y Recubrimientos Sputtering V3 Intercovamex Para realizar depósitos por erosión catódica. Depósito por radiofrecuencia, DC pulsada y polarizada. Recubrimientos duros y ternarios en memorias ópticas, materiales semiconductores, etc.

65 Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Viscosímetro Calorímetro Diferencial de Barrido (DSC). Colorímetro. Texturómetro. Medidor de Actividad de Agua. Fluorómetro. 65

66 Texture Analyzer TA-XT2
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas Texturómetro Texture Analyzer TA-XT2 Características: Carga Máxima: 25Kg. Resolución: 1g. Modos de medición de fuerza y distancia a la tensión o compresión. Con estándares de análisis de textura incluyendo adhesividad, ciclos de fatiga y relajación a la tensión. 66

67 Rapid visco analyzer (RVA4)
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas Viscosímetro Rapid visco analyzer (RVA4) Principal uso: alimentos, cereales y almidones. Para métodos estándar aprobados en USA (AACC), Europa (ICC) y Australasia (RACI). Rango de Temperatura : ºC. Precisión de la Temperatura: +/- 0.3°C Intervalo de Velocidad: 10-2,000 rpm. Intervalo de Viscosidad: 50-50,000 cP a 80 rpm.

68 Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Calorímetro Diferencial de Barrido (DSC) Mettler Toledo 822E. Determina propiedades para: Comportamiento en la fusión. Transiciones vítreas. Cristalización. Estabilidad en la oxidación. Calor específico. Características: Celda de medida con sensor de cerámica. Sistema de refrigeración por aire. Intervalo de temperatura: desde ambiente hasta 700 °C.

69 Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
Fluorómetro VICAM4 Se usa para el análisis de micotoxinas Base para pruebas de diagnóstico rápido USDA-y AOAC- para las micotoxinas y patógenos de los alimentos.

70 Hunterlab – Mini Scan® XE Plus.
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas Colorímetro Hunterlab – Mini Scan® XE Plus. Espectrofotómetro de medición de color por reflectancia portátil. Geometría de 45º/0º. Se pueden medir fácilmente muestras pequeñas, grandes, lisas o texturizadas. Incluye todas las escalas de colores índice tales como CIE XYZ, Hunter Lab, CIE L*a*b*, L*c h, Yxy, etc.

71 Equipo de cocimiento Ohmico
Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas Equipo de cocimiento Ohmico Básicamente es un DSC eléctrico para el análisis térmico y la determinación de cambios de fase, estructura y otras propiedades. Mide el grado y temperatura de gelatinización de almidones de cereales y otros granos, pero se puede extender su aplicación a otros materiales bio-orgánicos o inorgánicos conductores de la electricidad. Patentado por Cinvestav, utiliza las propiedades de conductividad eléctrica del almidón nativo, almidones modificados, cereales, almidón de tubérculos y el agua. El método puede ser usado con cereales sin cocer, o almidones gelatinizados, en forma de grano entero, molido y harinas.

72 Laboratorio 24. Propiedades Fisicoquímicas
OTROS EQUIPOS: Medidor de actividad de agua (Aw), AQUA-LAB, CX2. Equipo Soxhlet de 6 plazas. Centrífuga Labnet con rotor Hermes Z 200 A . Potenciómetro (pH-ISE-Conductivity Meter) Denver Instrument Mod. 250. Analizador de gases; O2/CO2 Analyzer Mca NITEC. Balanzas analíticas. Mufla FE-340 (25 a 1100ºC) Mca. Felisa. Baño María (con agitación).

73 Edificio de Investigación.
Laboratorio 25. Procesamiento Químico de Películas. Ubicado en el Nuevo Edificio de Investigación. 73