PELÍCULAS DELGADAS NANO-COMPUESTAS SANDRA RODIL INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN MATERIALES UNIVERSIDAD NACIONAL AUTÓNOMA DE MÉXICO

GRUPO DE TRABAJO Dr. S. Muhl Técnicos académicos: Hermilo Zarco, Lázaro Huerta Dra. Argelia Almaguer (Facultad de Odontología) Dra. Phaedra Silva (Postdoc) Asistente de laboratorio Mtro. Oscar García Alumnos de Doctorado: Zeuz, Giovanni, Perla, Claudia, Beatriz Alumnos de Maestría: Verónica, Víctor, Myriam, Ray, Jairo

Películas nano-compuestas PARA QUÉ? Dureza en recubrimientos duros Película nanoestructurada

“Matriz+ Inclusiones”= Material compuesto (composites) Nanométricas= nanocompuesto (nano-composites) Propiedades del material Nano-compuesto pueden ser totalmente diferentes a las de sus componente primarios. Térmicas ópticas

Materiales Nanocompuestos: Absorción óptica Transporte electrónico Magnéticas Materiales Nanocompuestos: Nuevos Materiales Diseñados a partir del control de las dimensiones. Películas delgadas nanocompuestas!!!

Cómo hacerlas? Magnetron Sputtering inclusión Eficiencia de erosión (Sputter Yield): Material Energía de los iones de Ar Área efectiva

Resultados Matriz Inclusiones Resultados a-C:Ag Carbono amorfo Plata Publicación + tesis de maestría + congresos a-C:Au Oro Publicación + tesis de doctorado en proceso final + congresos AlN:Ni Nitruro de aluminio Níquel Tesis de maestría +congresos Al:Ce Aluminio Cerio 3 Publicaciones + tesis de maestría + congresos Spin Coating PVC NPs Bi No presentaron propiedades antimicrobiales

Nanocristales de NbN en fase amorfa de SiNx Resultados Blanco multicomponente Nb Si Control independiente de la cantidad de cada fase y distribución a través de un proceso de depósito pulsado Permite obtener nanocompuestos con gradiente de concentración o bien con una distribución homogénea de la segunda fase. Sin embargo, no hay un control eficiente sobre la segregación. Ni sobre la cantidad de material de cada fase. Nanocristales de NbN en fase amorfa de SiNx

Resultados NbN+SiNx d NbN

Colaboraciones existentes Nacional ININ INSTITUTO DE FÍSICA, UNAM FACULTAD DE ODONTOLOGÍA, UNAM CICATA-Altamira UAM CINVESTAV-QRO Mediciones CIMAV

Consorcio BisNano Participant Number Participant organization name Country 1 (coor) UPJV-LPMC, Université de Picardie Jules Verne Francia 2 FCTUC, Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade de Coimbra Portugal 3 CSIC, Agencia estatal Consejo Superior de Investigaciones cientificas España 4 TUHH, Technische Universität Hamburg Harburg Alemania 5 INRIM, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia 6 POLITO, Politecnico di Torino 7 IZFP, Fraunhofer Gesellschaft für angewandte Forschung 8 NUID-UCD, National of , Irlanda 9 ULIV, Reino Unido 10 UNAL, Universidad Nacional de Colombia Colombia 11 UNAM, Universidad Nacional Autónoma de México México DF 12 CINVESTAV, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional México 13 UAMI, Universidad Autónoma Metropolitana campus Iztapalapa 14. ININ, Instituto Nacional de Investigaciones Nucleares 15 CENAM, Centro Nacional de Metrología Querétaro 16 FARMA, Farmaquimia SA de CV 17 SADOSA, SADOSA SA de CV 18 CIO, Centro de Investigaciones en Óptica México, León

Proyecto BisNano

Infraestructura Síntesis de películas delgadas: 6 magnetrones de 2 y 4 pulgadas de diámetro acoplados a diferentes cámaras de depósito que cuentan con sistema de introducción de muestras, vacío base de 10-6 Torr, disponibilidad de varios gases reactivos y no-reactivos con controladores de flujo másico, sistema de calentamiento para el substrato, fuentes de poder DC, RF, MF, y DC pulsada. Dos hornos de CVD con atmósfera controlada, uno de temperatura máxima 1200 °C y otro 1600 °C. Una evaporadora en reparación. Caracterización dentro del grupo: Perfilometro, Microdurómetro, Elipsómetro espectroscópico, Equipo para determinar resistencia al rayado, Equipo para determinar resistencia al desgaste, Potenciostato para determinar resistencia a la corrosión, Espectroscopia de impedancias (mHz a kHz), Evaluación Biomédica de superficies: estudios de biocompatibilidad y propiedades antimicrobiales Caracterización dentro del instituto Fotoemisión de electrones, XPS y espectroscopia AUGER Microscopia electrónica de barrido con análisis elemental Difracción de rayos-X (no haz rasante) Microscopia de Fuerza atómica.

Requerimientos Requerimientos: Los requerimientos son básicamente de apoyo en la caracterización por microscopia electrónica de transmisión (STEM y HRTEM). Análisis elemental a niveles de partes por billón y/o trillón. Espectroscopia Raman. Nanodureza. Recursos: Movilidad de estudiantes con la finalidad de que puedan estar presentes durante las mediciones de las muestras. Becas. Otro requerimiento sería para la reparación de alguno de los equipos con que contamos y que de manera inesperada se descomponga y esto afecte el desarrollo de las investigaciones (infraestructura excepcional). Apoyo para realizar difusión de resultados.

Gracias por su atención