LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s PFC de Lucas García Deiros Director del proyecto: Salvador Manich Bou 2003 Departament.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s PFC de Lucas García Deiros Director del proyecto: Salvador Manich Bou 2003 Departament d’Enginyeria Electrònica secció Campus Sud (ETSEIB) LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s

Índice Introducción Objetivos Método propuesto Resultados obtenidos Conclusiones Líneas futuras

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Introducción

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Los circuitos pueden presentar defectos CAUSAS: Fase de diseño: - errores en la implementación Fase de fabricación: - partículas que pueden contaminar las obleas - interconexionado entre pistas Fase de funcionamiento: - temperatura, humedad, vibraciones - ruido por radiaciones electromagnéticas - fluctuaciones en la tensión de alimentación - desgaste

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s EFECTOS: 10100101010010 entradas 0101101011 salidas esperadas CUT 0111101111 salidas obtenidas ERROR Los circuitos pueden presentar defectos

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Tipos de test Test funcional - Probar el circuito para las entradas posibles y comparar las salidas obtenidas con las esperadas. - Inviable cuando número de entradas del CUT comienza a ser elevado. Ej: CUT de 65 entradas (bloque sumador de 32 bits con 1 línea de carry-in) Aplicando las 2 65 posibles entradas a una f=1GHz: ¡¡¡ necesarios más de 1100 años para completar el test !!!

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Test mediante modelo de fallos - Un modelo de fallos es una representación, apta para la simulación, de los efectos catastróficos (fallos) que pueden provocar los defectos de un circuito. - Pretende conseguir la detección de fallos utilizando un conjunto reducido de entradas (vectores de test). - Existen diferentes modelos de fallos: modelo de fallos puente modelo de fallos de retardo modelo de fallos stuck-at Tipos de test

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Modelo de fallos stuck-at A B C A B C stuck-at 1 1 sa1 A 0 1 0 1 stuck-at 0 0 sa0 C 0 modelo de fallos escogido para este proyecto

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Simulador de fallos Herramienta que nos permite obtener un conjunto de vectores de test para detectar un determinado número de fallos (a partir de un modelo de fallos). Estadística obtenida: cobertura de fallos (FC). caso del modelo stuck-at aplicado a todos los nodos: F = 2·( N EntradasCUT + N SalidasCUT + N NodosInternosCUT ) FC puede no llegar al 100%  fallos indetectables.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Test clásico (ATE externo) vectores de test respuestas

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Es necesario disminuir costes en el test Datos obtenidos de SIA Roadmap 2001

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Solución: Técnicas BIST BIST Orientadas a la integración dentro del propio chip de los bloques necesarios para la realización del test. Permite la realización del test a la frecuencia de trabajo del CUT (at-speed). Puede suponer un aumento en el área del chip.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Solución: Técnicas BIST Un esquema BIST se compone de un bloque TPG que genera los patrones de test y de un bloque ORA que analiza las salidas obtenidas. Generador de patrones implementado clásicamente con LFSRs. CUT TPG ORA entradas salidas

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG Alternativa a los LFSR. Permiten la reutilización de bloques DataPath existentes en el CUT para tareas de testeo. Disminución del overhead de área. Registro Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG Generan caminos o secuencias de vectores de test a partir de 3 variables de inicialización (tripletes): Semilla, Incremento y Longitud Se pueden realizar reseedings durante el test. Introduce vectores dummy en las secuencias. Parámetros a tener en cuenta: - N vectores generados - M palabras de n bits en memoria - FC conseguida Registro Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00000 DATAPATH Camino generado: Incremento  Semilla 

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00000 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 Semilla 

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00010 00000 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 Semilla 

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00010 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 00010 Semilla  + Incremento

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00100 00010 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 00010 Semilla 

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00100 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 00010 00100 Semilla  + Incremento

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00110 00100 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 00010 00100 Semilla 

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG 00010 Sumador 00110 DATAPATH Incremento  Vector de test  Camino generado: 00000 00010 00100 00110 Semilla  + Incremento

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generador de patrones BIST Los AdTPG Camino generado: 00000 00010 00100 00110 Registro Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH Semilla: 00000 Incremento: 00010 Longitud: 3 Vectores de test a aplicar al CUT

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Problemas de los AdTPG... Registro Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Problema 1: Doble de memoria necesaria respecto los LFSR MEMORIA (M) LFSR AdTPG Semilla 1 Incremento 1 Semilla 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s MEMORIA (M) LFSR AdTPG Semilla 1 Incremento 1 Semilla 2 Incremento 2 Semilla 1 Semilla 2 Problema 1: Doble de memoria necesaria respecto los LFSR

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s MEMORIA (M) LFSR AdTPG Semilla 1 Incremento 1 Semilla 2 Incremento 2 Semilla 3 Incremento 3 Semilla 1 Semilla 2 Semilla 3 Problema 1: Doble de memoria necesaria respecto los LFSR

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s MEMORIA (M) LFSR AdTPG Semilla 1 Incremento 1 Semilla 2 Incremento 2 Semilla 3 Incremento 3 Semilla 4 Incremento 4 Semilla 1 Semilla 2 Semilla 3 Semilla 4 Problema 1: Doble de memoria necesaria respecto los LFSR

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Problema 2: Secuencias con periodo < 2 n 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1 Semilla

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1 Incremento Problema 2: Secuencias con periodo < 2 n

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1 Problema 2: Secuencias con periodo < 2 n

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1 Problema 2: Secuencias con periodo < 2 n Repetición del vector semilla

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s AdTPG LFSR Problema 3: Bits sin conmutación en las secuencias

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s LFSR AdTPG Bits a 1 sin conmutar Bits a 0 sin conmutar Problema 3: Bits sin conmutación en las secuencias

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Objetivos del proyecto

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Implementación de un método que permita la obtención de unos tripletes eficientes para el AdTPG. Intentar solucionar los 3 problemas planteados. Reducir los parámetros M y N en comparación a otros métodos existentes, sin penalizar en cobertura de fallos stuck-at. Programación del método en lenguaje C intentando reducir los tiempos de simulación. Objetivos del proyecto

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Método propuesto: LUCSAM 2 fases

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Fase 1 del LUCSAM

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Escogemos semillas a partir de la LCVT LCVT Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector m LCVT obtenida a partir del Simulador de fallos. Generamos m caminos de longitud L max y escogemos el de mayor FC. Se reduce el tiempo de simulación. Se asegura alta cobertura en las semillas.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Solución al problema 1: Mismo vector como semilla e incremento MEMORIA (M) AdTPG Semilla 1 Incremento Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH LCVT Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector m

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s MEMORIA (M) AdTPG Semilla 1 Semilla 2 Incremento Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH LCVT Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector m Solución al problema 1: Repetimos el proceso hasta llegar a la FC deseada

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Semilla 3 MEMORIA (M) AdTPG Semilla 1 Incremento Sumador Acumulador vectores de test DATAPATH LCVT Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector m Semilla 2 Solución al problema 1: Repetimos el proceso hasta llegar a la FC deseada

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s MEMORIA (M) AdTPG L 1, L 2, L 3,..., L kss k SS tripletes SS (S i, S i, L i ) Solución al problema 1: Obtenemos el conjunto de tripletes a almacenar en memoria “Recortamos” las colas de los caminos hasta el último vector con cobertura Disminuimos el valor de N Disminuimos el valor de M Semilla k SS longitudes: Semilla 3 Semilla 1 Semilla 2

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Solución al problema 2: Asegurando incrementos impares... Semilla Incremento LSB 1 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s...obtenemos secuencias con periodo 2 n 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1 No hay repetición de la semilla

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1...obtenemos secuencias con periodo 2 n No hay repetición de la semilla

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s 000...0 001...1 011...1 101...1 111...1...obtenemos secuencias con periodo 2 n Repetición de la semilla después de 2 n vectores

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Solución al problema 3: Evaluación exhaustiva de las agrupaciones 11.......1100..00 11..1100..00 Amax Semilla: L max = longitud máxima de las secuencias

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Problemas en la fase 1 del LUCSAM Es posible que no se cumplan las especificaciones en cuanto a N y M para algunos circuitos. La fase 1 penaliza en estos dos parámetros cuando existen fallos de difícil detección. Esta fase introduce gran cantidad de vectores dummy (aumenta el valor de N).

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Fase 2 del LUCSAM

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Generar caminos a partir de la LEVT LEVT obtenida también a partir del Simulador de fallos. Un cubo es un vector de test con bits “no importa” denotados por la letra Z. La lista contiene tantos cubos como fallos queremos detectar (eliminando cubos repetidos). Se han de asignar valores binarios a los bits “no importa”. Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w LEVT con cubos

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Asignación de valores a las Z’s LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w Método aleatorio: valores binarios aleatorios para cada Z. Método adaptativo: se asignan valores binarios a las Z de cada columna en función del valor binario más repetido en la columna de la LEVT. Resultados pobres Utilizado en este proyecto

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Método adaptativo de asignación LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w LEVT con vectores Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector v 001 10Z ZZ1 010 1ZZ Z0Z 001 Z0Z 001 100 001 010 101 000 001 000 000100 máscara de asignación

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Búsqueda de caminos entre los vectores de la LEVT LEVT con vectores Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector v Se buscan caminos de longitud máxima (con vectores únicamente de la LEVT). Inicialmente no existirán vectores dummy en las secuencias. El incremento será diferente a la semilla (tripletes SI para iniciar el AdTPG)

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Matriz de distancias y frecuencia LEVT con vectores Vector 1 Vector 2 Vector 3 Vector v d1d1 d1d1 d1d1 Frecuencia: número de apariciones de una distancia en la matriz D.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Matriz de adyacencias caminos de longitud 1 d1d1 d1d1 d1d1 1 1 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Matriz de adyacencias Para obtener los caminos de longitud L buscamos las matrices: caminos de longitud 1 1 1 1 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Matriz de adyacencias Para obtener los caminos de longitud L buscamos las matrices: 1 Para cada distancia buscaremos los caminos de longitud máxima

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Conjunto de caminos SI Caminos SI encontrados: (S 1, I 1, L 1 ) (S 2, I 2, L 2 )... (S c, I c, L c ) Para cada distancia buscaremos los caminos de longitud máxima

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Selección de los mejores caminos SI LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w Cubo 4 Cubo 5 Cubo 6 Cubo 7 Cubo 8 Caminos SI encontrados: (S 1, I 1, L 1 ) (S 2, I 2, L 2 )... (S c, I c, L c ) Utilizamos la LEVT para escoger los k SI caminos de mejor cobertura

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Evaluamos la cobertura de cubos obtenida para cada camino SI LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w Cubo 4 Cubo 5 Cubo 6 Cubo 7 Cubo 8 Caminos SI encontrados: (S 1, I 1, L 1 ) (S 2, I 2, L 2 )... (S c, I c, L c ) 4 Cobertura

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Evaluamos la cobertura de cubos obtenida para cada camino SI LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w Cubo 4 Cubo 5 Cubo 6 Cubo 7 Cubo 8 Caminos SI encontrados: (S 1, I 1, L 1 ) (S 2, I 2, L 2 )... (S c, I c, L c ) Cobertura 4 5

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Evaluamos la cobertura de cubos obtenida para cada camino SI LEVT con cubos Cubo 1 Cubo 2 Cubo 3 Cubo w Cubo 4 Cubo 5 Cubo 6 Cubo 7 Cubo 8 Caminos SI encontrados: (S 1, I 1, L 1 ) (S 2, I 2, L 2 )... (S c, I c, L c ) 4 5 2... Cobertura

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Alargamos los caminos obtenidos intentando mejorar la cobertura de cubos LiLi SiSi +I i Forward ExtraScan Backward ExtraScan (S i, I i, L i )

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Alargamos los caminos obtenidos intentando mejorar la cobertura de cubos LiLi +I i Forward ExtraScan SiSi Backward ExtraScan (S i, I i, L i )

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Alargamos los caminos obtenidos intentando mejorar la cobertura de cubos (S i, I i, L i ) Finalmente nos quedamos con los k SI caminos con mejor cobertura (S i, I i, L i )

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Fase 1 - Generación no-determinística de vectores a partir de la LCVT. - Obtención de k SS tripletes SS. - Mínima ocupación de memoria. - Es posible llegar a la cobertura total de fallos incrementando N. - Penaliza en N cuando existen fallos difíciles en el circuito. Comparación fase 1 vs fase 2 Fase 2 - Generación determinística de vectores a partir de la LEVT. - Obtención de k SI tripletes SI. - Mayor ocupación de memoria. - Difícil llegar a la cobertura total de fallos con los tripletes SI. - Permite la detección de fallos difíciles sin penalizar en N. fase 2 complementa a la fase 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Metodología final LUCSAM 1. Obtener la LCVT a partir del Simulador de fallos. 2. Aplicar la fase 1 del LUCSAM. Si conseguimos llegar a la cobertura deseada (FC) sin superar unos límites para N y M finaliza el algoritmo LUCSAM. 3. En el caso que no se consiga el punto anterior fijamos una cobertura mínima FD min para los caminos SS encontrados. 4. Encontramos la LEVT para los fallos no cubiertos por los caminos que cumplían la restricción anterior. 5. Aplicar la fase 2 del LUCSAM. 6. Obtener los k caminos a almacenar en memoria.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Resultados obtenidos

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Circuitos ISCAS-85

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Fase 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s M & N vs L max (fase 1 del c2670) FC=97.64%

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s FC vs N (c2670) fase 1 2125 L max =1000 42 tripletes SS FC=97,64%

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s FC vs N (c2670) fase 1+ fase 2 fase 1 666 2125 L max =1000 42 tripletes SS FC=97,64% L max =1000 30 tripletes SS 5 tripletes SI FC=97,64%

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s FC vs N (c7552) fase 1 4331 L max =1000 45 tripletes SS FC=98,83%

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s FC vs N (c7552) fase 1+ fase 2 1347 L max =1000 30 tripletes SS 2 tripletes SI FC=98,79% L max =1000 45 tripletes SS FC=98,83% 4331 fase 1

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Efecto de las agrupaciones (fase 1 del c1355) L max =1100 n=41

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s FC CM Efecto de las agrupaciones (fase 1 del c1355) L max =1100 n=41

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Comparación del LUCSAM con otros TPG AdTPG - GATSBY (S.Chiusano, P.Prinetto and H.J.Wunderlinch) LFSR

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s GATSBY vs LUCSAM

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s LFSR vs LUCSAM (fase 1) para el c1908 FCdif(%) = FC LUCSAM (%) - FC LFSR (%)

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Conclusiones del proyecto

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Conclusiones del proyecto Hemos obtenido un método para seleccionar tripletes para un AdTPG de forma eficiente. Se han solucionado los problemas clásicos de los AdTPG. Se reducen los parámetros N y M sin penalizar en cobertura de fallos. Tiempos de simulación necesarios para obtener los tripletes menores respecto a métodos alternativos AdTPG.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Líneas futuras

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s Líneas futuras Alternativa al método adaptativo: método algebraico. En este caso durante la asignación de las Z’s se intenta favorecer la distancia más repetida en la matriz de distancias. Estudio del LUCSAM a nivel de potencia consumida durante la excitación del CUT con los vectores generados. Aplicación del LUCSAM a otros modelos de fallos diferentes al stuck-at, como por ejemplo al modelo de fallos de retardo.

LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s PFC de Lucas García Deiros Director del proyecto: Salvador Manich Bou 2003 Departament d’Enginyeria Electrònica secció Campus Sud (ETSEIB) LUCSAM: Generador de patrones de test basado en suma aritmética para SOC’s

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