 Es la técnica de análisis es quizá una de las más importantes. se usa tanto en laboratorios de investigación como en la industria para la caracterización.

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3  Es la técnica de análisis es quizá una de las más importantes. se usa tanto en laboratorios de investigación como en la industria para la caracterización de materiales y el control de calidad. El área de aplicación más importante de esta técnica es la identificación de fases cristalinas presentes en la muestra sólida o de polvo.  Determinación de estructura cristalina  análisis cualitativo de de fases cristalinas  tamaño de cristal, defectos, dopajes, mezclas PREVIO ANÁLISIS QUÍMICO  Determinación de las dimensiones de la celdilla unidad,

4 EL ESPECTRO ELECTROMAGNÉTICO Principio 0,5-5 Å

5 EL ESPECTRO ELECTROMAGNETICO

6 PASO PARA LA DETERMINACIÓN DEL COMPUESTO

7 GENERACIÓN DE RAYOS X Rayos X producción de rayos X partícula

8 LEY DE BRAGG cristal está formado por redes de átomos regulares planos paralelos incide, Difractan

9 EQUIPO DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X UBICADO EN EL AMBIENTE DE IGEMA (GEOLOGÍA)

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11 Se pueden observar los diferentes picos de intensidad correspondientes a varios planos paralelos en la muestra. Este difractograma constituye una huella digital para ese molécula, lo que permite diferenciarla de otras especies que incluso tengan los mismos componentes atómicos. ESPECTROS DE DIFRACCIÓN EN EXTENSIÓN.RD

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13 X'Pert HighScore usada principalmente en la identificación de fases, pero exhibe y manipula una gran variedad de datos de difracción. El software auxilia en el análisis y manipulación de datos de difracción de rayos-X. Con una base de datos de 131590

14 DIFRACTOGRAMA DE RAYOS X Los diagramas de interferencia resultantes pueden fotografiarse y analizarse para determinar la longitud de onda de los rayos X incidentes o la distancia entre los átomos del cristal, según cuál de ambos datos se desconozca

15 La identificación se realiza comparando el difractograma de la muestra a identificar con los patrones experimentales almacenados en una base de datos

16 hkl(200), d 2,81 hkl(220) Peak list No.h k ld [A]2Theta[deg]I [%] 11 1 13,2500027,4215,0 22 0 02,8100031,820100,0 32 2 01,9900045,54783,0 43 1 11,7000053,8882,0 52 2 21,6300056,40333,0 64 0 01,4100066,22913,0 73 3 11,2900073,3301,0 84 2 01,2600075,37433,0 94 2 21,1500084,10720,0 105 1 11,0800090,9981,0 114 4 01,00000100,76230,0 126 0 00,94000110,0635,0 136 2 00,89000119,8813,0 146 2 20,85000129,9803,0 154 4 40,81000143,9741,0 166 4 00,78000161,9091,0

17 ESPECTROS DE DIFRACCION  Espectro del talco Mg 3 Si 4 O 10 (OH) 2

18 Ejemplo muestra de arcilla No. Ref. CodeCompoun d Name Chemical FormulaSemi Quan 101-083-0539QuartzSi O2- 200-026-0911Illite( K, H3 O ) Al2 Si3 Al O10 ( O H )2- 301-079-1270Clinochlor e ( Mg2.96 Fe1.55 Fe.136 Al1.275 ) ( Si2.622 Al1.376 O10 ) ( O H )8 - 401-076-0927Albite calcian ( Na0.84 Ca0.16 ) Al1.16 Si2.84 O8-

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21 Marca Rigaku-Geiger Tubo de Cu (Ka1 = 1.5418 Å). Energía R-X 30 KV – 15 mA. Goniómetro 2q = 3º a 60º. Velocidad 2º/min. Slits 1º - 03 mm - 1º. Interface para computadora