J. A. Barón-Miranda1, A. Palacios-Pradós2, N. Martínez-García1, F

Presentación del tema: "J. A. Barón-Miranda1, A. Palacios-Pradós2, N. Martínez-García1, F"— Transcripción de la presentación:

1 Caracterización de materiales por microscopía de fuerzas atómicas con corriente
J.A. Barón-Miranda1, A. Palacios-Pradós2, N. Martínez-García1, F. Chalé-Lara1 I. Díez-Pérez2, F. Sanz-Carrasco2, F. Caballero-Briones1 1Instituto Politécnico Nacional, Laboratorio de Materiales Fotovoltaicos, CICATA Altamira, Km 14.5 Carretera Tampico-Puerto Industrial Altamira, Altamira, México. 2Department de Química-Física, Universitat de Barcelona Martí i Franquès 1-11, Barcelona, España

2 Contenido Introducción Caracterización de materiales por CAFM
Conclusiones

3 Introducción: Microscopia de Fuerzas Atómicas y CAFM

4 Estudio de materiales por CAFM
Calibración Caracterización nanoeléctrica de Cu2O Medición de fotocorriente en CdS:Mg Medición de la conductividad en nanoparticulas de CdSSe funcionalizadas con ODT

5 Calibración a) ITO b) b) ITO

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7 Caracterización nanoeléctrica de Cu2O

8

9 Medición de fotocorriente en CdS:Mg

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11 Preparación de películas de nanoparticulas de CdSSe funcionalizadas

12 Medición de la conductividad en nanoparticulas de CdSSe funcionalizadas con ODT

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14 Conclusiones Se caracterizaron por CAFM películas de materiales semiconductores tipo P (Cu2O) y tipo N (CdS:Mg) así como películas de nanoparticulas de CdSSe. La técnica de CAFM permitió observar las propiedades eléctricas y fotovoltaicas a escala nanometrica.

15 AGRADECIMIENTOS Financiado por CONACYT 151679 y MICINN-CTQ2012-36090
AGRADECIMIENTOS Financiado por CONACYT y MICINN-CTQ IDP agradece financiamiento de MICINN-RyC y APA agradece beca FPU.