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Microscopia de fuerza atómica de alta velocidad
Microscopia de fuerza atómica de alta velocidad. El esquema señala los elementos básicos de HS-AFM. El operador “coloca” la muestra en un componente (el piezoactuador) unido a la platina del microscopio (no se muestra). Las señales provenientes del actuador hacen que el segmento voladizo oscile hacia arriba y abajo, de modo que de manera intermitente el extremo del AFM contacta la muestra a medida que rastrea la superficie de ella. Las fuerzas que surgen entre la muestra y el extremo del AFM originan deflexiones del extremo, que son detectadas por un haz láser que es reflejado fuera de la superficie trasera del extremo del AFM. Los movimientos de la posición del rayo láser, que reflejan diferencias topográficas en toda la superficie de la muestra, son identificados por un detector de posición, y tal información se utiliza para “elaborar” una imagen de la muestra. La sucesión de imágenes basadas en AFM, propias del movimiento de la molécula de miosina V que se señala en la figura 9.52 fue “filmada” a razón de 7 cuadros por segundo. (Tomada de C. Veigel y C.P. Schmidt, Nature Revs. Mol. Cell Biol. 12:166, 2011; copyright Nature Reviews Molecular Cell Biology by Nature Publishing Group. Reimpreso con autorización de Nature Publishing Group en el formato de reproducción como libro de texto de copyright Clearance Center.) De: Técnicas en biología celular y molecular, Biología celular y molecular. Conceptos y experimentos, 7e Citación: Karp G. Biología celular y molecular. Conceptos y experimentos, 7e; 2017 En: Recuperado: November 07, 2017 Copyright © 2017 McGraw-Hill Education. All rights reserved
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