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IV REUNIÓN DE MINISTROS Y ALTAS AUTORIDADES DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA 10-11 de marzo de 2015 Ciudad de Guatemala, Guatemala Héctor Laiz Presidente del SIM.

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Presentación del tema: "IV REUNIÓN DE MINISTROS Y ALTAS AUTORIDADES DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA 10-11 de marzo de 2015 Ciudad de Guatemala, Guatemala Héctor Laiz Presidente del SIM."— Transcripción de la presentación:

1 IV REUNIÓN DE MINISTROS Y ALTAS AUTORIDADES DE CIENCIA Y TECNOLOGÍA 10-11 de marzo de 2015 Ciudad de Guatemala, Guatemala Héctor Laiz Presidente del SIM

2 Organizaciones Regionales de Metrología EL SIM 34 Institutos Nacional es de Metrología de las Américas Promueve la cooperación en metrología en la región Cumple un rol esencial en el Sistema Global de Mediciones con eje en la Convención del Metro 13 grupos técnicos de trabajo Fuerte vínculo con la OEA desde su creación en 1979 Nueva relación desde 2014. Nuevo MoU.

3  Intercomparaciones y evoluciones de pares para soportar el MRA  Cursos/Talleres – Equipamiento Biomédico (2014) – Estadística para Química(2015) – Irradiacia Solar (2015) – Calidad de Potencia Eléctrica (2014) – Temperatura de Radiación (2015) – Balanzas de alta capacidad (2015)  Estadías de entrenamiento en institutos más avanzados  5 Talleres en “Energías Renovables y Ciencia del Clima (Desafíos Metrológicos y Tecnológicos). Proyecto OEA-NIST Actividades recientes

4 Identificación de las necesidades regionales Metrología para la Sociedad Metrología para la Calidad Industrial

5 The National Institute of Standards and Technology (NIST) has issued a new silver nanoparticle reference material to support researchers studying potential environmental, health and safety risks associated with the nanoparticles,new silver nanoparticle reference material Metrología para la Investigación, el Desarrollo y la Innovación La capacidad de medición determina la posibilidad de verificar teorías o modelos y, a partir de esta verificación, la formulación de nuevas hipótesis Las nuevas tecnologías requieren del establecimiento y fortalecimiento de una sólida base metrológica para que la falta de capacidad de medición no se convierta en una barrera a la innovación Grafeno T = 4,2 K (helio líquido) B <<12T

6 Metrología para la Investigación, el Desarrollo y la Innovación

7 Nuevo Plan del SIM (Borrador) “ Understanding basic measurement techniques is critical, but ever changing requirements demand measurement capabilities previously unheard of. The countries of the Americas have developed an understanding of the need for a measurement and standards infrastructure, but there remains a critical need for enhancing current capabilities. The lack of measurement capabilities is a barrier that limits the development of new technologies. For example, the introduction of nanotechnologies demands measurement capabilities at the nanometric range (10 -9 m) and biotechnology demands new capabilities in biological reference materials (i.e GMOs, biopharmaceuticals, etc). The regional deployment of these enabling measurement capabilities, and their global recognition, can only be achieved through a regional cooperation scheme. “

8 Gracias Obrigado Merci Thank you Héctor Laiz Presidente del SIM


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