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Scanning Electron Microscope

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Presentación del tema: "Scanning Electron Microscope"— Transcripción de la presentación:

1 Scanning Electron Microscope
SEM Scanning Electron Microscope

2 El Microscopio electrónico de barrido, es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen.

3 VENTAJAS Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra. También produce imágenes de alta resolución, que significa que características espacialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación. La preparación de las muestras es relativamente fácil pues la mayoría de SEMs sólo requieren que estas sean conductoras.

4 CÓMO FUNCIONA En el SEM la muestra generalmente es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal para darle propiedades conductoras a la muestra. Posteriormente es barrida con los electrones acelerados que viajan a través del cañón. Un detector mide la cantidad de electrones enviados que arroja la intensidad de la zona de muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones. 

5 CARACTERÍSTICAS Su resolución está entre 4 y 20 nm, dependiendo del microscopio. Permite obtener imágenes de gran resolución en materiales pétreos, metálicos y orgánicos. La luz se sustituye por un haz de electrones, las lentes por electroimanes y las muestras se hacen conductoras metalizando su superficie.

6 CÓMO TRABAJA

7 CÓMO PREPARAR UNA MUESTRA
Toda el agua debe ser retirada de las muestras debido a que el agua se vaporiza en el vacío.  Todos los metales son conductores y no requieren ninguna preparación antes de ser utilizado, es necesario cubrir la muestra con una fina capa de material conductor. Esto se realiza mediante un dispositivo denominado "pulverización catódica recubridora". La pulverización catódica utiliza un campo eléctrico y gas argón. La muestra se coloca en una pequeña cámara que está en un vacío. El gas argón y un campo eléctrico causan un electrón al ser retirado del argón, cargando los átomos positivamente. Los iones de argón a continuación, se atraen a una lámina de oro cargado negativamente. Los iones de argón golpean los átomos de oro de la superficie de la lámina de oro. Estos átomos de oro caen y se depositan sobre la superficie de la muestra produciendo un recubrimiento delgada de oro.

8 LIMITACIONES Las muestras deben ser sólidos y deben encajar en la cámara del microscopio.  El tamaño máximo de las dimensiones horizontales suele ser de 10 cm, dimensiones verticales rara vez superan los 40 mm. Para la mayoría de los instrumentos de muestras debe ser estable en un vacío del orden de 10 -5 a 10 -6 torr.  Las muestras que puedan despedir gases a bajas presiones (rocas saturadas de hidrocarburos "húmeda" muestras tales como el carbón, materiales orgánicos o arcillas expansivas, y las muestras que puedan decrepitan a baja presión) no son adecuados para su examen en la SEM convencional. SEM no puede detectar los elementos muy ligeros (H, He y Li), y muchos instrumentos no puede detectar elementos con números atómicos menos de 11 (Na).  La mayoría de los SEM utiliza un estado sólido para detectar los rayos X.

9 IMÁGENES

10 VIDEOS

11

12 ¡¡GRACIAS!! NEILA RAMOS BALDERAS CARLOS GARCÍA JONATHAN PALAFOX
EDUARDO GARCÍA


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