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1. 2 Dr. S. Muhl Técnicos académicos: Hermilo Zarco, Lázaro Huerta Dra. Argelia Almaguer (Facultad de Odontología) Dra. Phaedra Silva (Postdoc) Asistente.

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2 2 Dr. S. Muhl Técnicos académicos: Hermilo Zarco, Lázaro Huerta Dra. Argelia Almaguer (Facultad de Odontología) Dra. Phaedra Silva (Postdoc) Asistente de laboratorio Mtro. Oscar García Alumnos de Doctorado: Zeuz, Giovanni, Perla, Claudia, Beatriz Alumnos de Maestría: Verónica, Víctor, Myriam, Ray, Jairo

3 Dureza en recubrimientos duros Película nanoestructurada 3

4 Matriz+ Inclusiones= Material compuesto (composites) Nanométricas= nanocompuesto (nano-composites) Propiedades del material Nano-compuesto pueden ser totalmente diferentes a las de sus componente primarios. Inclusiones Térmicas ópticas 4

5 Transporte electrónicoAbsorción óptica Magnéticas Materiales Nanocompuestos: Nuevos Materiales Diseñados a partir del control de las dimensiones. Películas delgadas nanocompuestas!!! 5

6 Eficiencia de erosión (Sputter Yield): Material Energía de los iones de Ar Área efectiva Magnetron Sputtering 6 inclusión

7 MatrizInclusionesResultados a-C:AgCarbono amorfo PlataPublicación + tesis de maestría + congresos a-C:AuCarbono amorfo OroPublicación + tesis de doctorado en proceso final + congresos AlN:NiNitruro de aluminio NíquelTesis de maestría +congresos Al:CeAluminioCerio3 Publicaciones + tesis de maestría + congresos Spin Coating PVCNPs BiNo presentaron propiedades antimicrobiales 7

8 Permite obtener nanocompuestos con gradiente de concentración o bien con una distribución homogénea de la segunda fase. Sin embargo, no hay un control eficiente sobre la segregación. Ni sobre la cantidad de material de cada fase. Blanco multicomponente Control independiente de la cantidad de cada fase y distribución a través de un proceso de depósito pulsado 8 Nanocristales de NbN en fase amorfa de SiNx

9 9 NbN NbN+SiNx

10 10 Nacional ININ INSTITUTO DE FÍSICA, UNAM FACULTAD DE ODONTOLOGÍA, UNAM CICATA-Altamira UAM CINVESTAV-QRO Mediciones CIMAV

11 11 Participant Number Participant organization nameCountry 1 (coor)UPJV-LPMC, Université de Picardie Jules Verne Francia 2 FCTUC, Faculdade de Ciências e Tecnologia da Universidade de Coimbra Portugal 3 CSIC, Agencia estatal Consejo Superior de Investigaciones cientificas España 4TUHH, Technische Universität Hamburg Harburg Alemania 5INRIM, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica Italia 6POLITO, Politecnico di Torino Italia 7IZFP, Fraunhofer Gesellschaft für angewandte Forschung Alemania 8NUID-UCD, National of, Irlanda 9ULIV, Reino Unido 10UNAL, Universidad Nacional de Colombia Colombia 11UNAM, Universidad Nacional Autónoma de MéxicoMéxico DF 12 CINVESTAV, Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del Instituto Politécnico Nacional México 13UAMI, Universidad Autónoma Metropolitana campus IztapalapaMéxico DF 14.ININ, Instituto Nacional de Investigaciones Nucleares México 15CENAM, Centro Nacional de MetrologíaQuerétaro 16FARMA, Farmaquimia SA de CV México 17SADOSA, SADOSA SA de CVMéxico DF 18CIO, Centro de Investigaciones en ÓpticaMéxico, León

12 12

13 13 Síntesis de películas delgadas: 6 magnetrones de 2 y 4 pulgadas de diámetro acoplados a diferentes cámaras de depósito que cuentan con sistema de introducción de muestras, vacío base de Torr, disponibilidad de varios gases reactivos y no-reactivos con controladores de flujo másico, sistema de calentamiento para el substrato, fuentes de poder DC, RF, MF, y DC pulsada. Dos hornos de CVD con atmósfera controlada, uno de temperatura máxima 1200 °C y otro 1600 °C. Una evaporadora en reparación. Caracterización dentro del grupo: Perfilometro, Microdurómetro, Elipsómetro espectroscópico, Equipo para determinar resistencia al rayado, Equipo para determinar resistencia al desgaste, Potenciostato para determinar resistencia a la corrosión, Espectroscopia de impedancias (mHz a kHz), Evaluación Biomédica de superficies: estudios de biocompatibilidad y propiedades antimicrobiales Caracterización dentro del instituto Fotoemisión de electrones, XPS y espectroscopia AUGER Microscopia electrónica de barrido con análisis elemental Difracción de rayos-X (no haz rasante) Microscopia de Fuerza atómica.

14 14 Requerimientos: Los requerimientos son básicamente de apoyo en la caracterización por microscopia electrónica de transmisión (STEM y HRTEM). Análisis elemental a niveles de partes por billón y/o trillón. Espectroscopia Raman. Nanodureza. Recursos: Movilidad de estudiantes con la finalidad de que puedan estar presentes durante las mediciones de las muestras. Becas. Otro requerimiento sería para la reparación de alguno de los equipos con que contamos y que de manera inesperada se descomponga y esto afecte el desarrollo de las investigaciones (infraestructura excepcional). Apoyo para realizar difusión de resultados.

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